Електронний каталог

          Кеннет, У.
    Почему изделия не проходят испытания на электромагнитную совместимость [Текст] / Уайетт Кеннет
    // Chip news Украина / Инженерная микроэлектроника. – Київ : ООО"Булавиа-Посад", 2021. – № 5. – С. 80-86.


УДК 621.38

            


Є складовою частиною документа Chip news Украина / Инженерная микроэлектроника [Текст]. № 5. – Київ : ООО"Булавиа-Посад", 2021. – журнал.



Теми документа






Український Фондовий Дім Інформаційно-пошукова система
'УФД/Бібліотека'